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    1. 薄膜材料方阻測試儀FT-331

      發布時間: 2021-12-14 15:05:33 點擊: 134
      薄膜材料方阻測試儀FT-331

      薄膜材料方阻測試儀FT-331


      1.方塊電阻范圍 10^-5~2×10^5Ω/□
      2.電阻率范圍 10^-6~2×10^6Ω-cm
      測試電流范圍 0.1μA ,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100mA
      4.電流精度 ±0.1% 
      5.電阻精度 ≤0.3%
      6.顯示讀數 液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率
      7.測試方式 普通單電測量
      8.工作電源 輸入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗:<30W 
      9.誤差 ≤4%(標準樣片結果)
      10.選購功能 選購1.pc軟件; 選購2.方形探頭; 選購3.直線形探頭; 選購4.測試平臺;5.標準電阻.
      11.測試探頭 探針間距選購:1mm;2mm;3mm三種規格; 探針材質選購:碳化鎢針;白鋼針;鍍金磷銅半球形針

      12.標準電阻(選購) 規格:1mΩ、10mΩ、100mΩ、1Ω、10Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ

      薄膜材料方阻測試儀FT-331

      描述:

      采用范德堡測量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差,提供通訊接口,PC軟件數據處理及數據分析.中文或英文語言版本.

      二.參照標準:

      硅片電阻率測量的標準(ASTM F84)及國標設計制造;GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》.

      三.適用范圍:

      適用于生產企業、高等院校、科研部門,是檢驗和分析半導體材料質量的工具;液晶顯示,自動測量和系數補償,并帶有溫度補償功能,自動轉換量程;采用芯片控制,恒流輸出,選配:PC軟件,保存和打印數據,生成報表

      用于:覆蓋膜;導電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導體材料、薄膜材料方阻測試等相關產品

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